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一站式的测量、控制、检测、分析以及筛选技术
Chinaplas 2016:
Clear the Stage for Measuring, Control,
Inspection, Analysis and Sorting Technology
2016国际橡塑展将于4月25-28日在上海
盛大开展。无论是在挤出技术，还是塑料加工
或质量控制方面，CHINAPLAS展会都云集了
最先进的技术。SIKORA公司在此次展会上也
将推出一系列创新型的技术：包括应用于提高
产品品质、优化操作流程及节省生产成本方面
的测量、控制、检测、分析及材料筛选技术。
In Shanghai great importance is attached to
the subject “plastics” from April 25-28, 2016.
Whether extrusion technology, methods of the
plastics processing or quality assurance, the
Chinaplas centers pioneering technologies.
SIKORAs exhibition appearance promises one
thing above all: innovations for the areas mea-
suring, control, inspection, analysis and sorting
technology for an increase in quality, process
optimization and cost saving.
SIKORA公司最新推出的 2 种新型测控仪器将在
CHINAPLAS期间首次展出。CENTERWAVE 6000，专为外
径范围120mm - 1000mm 的超大管材设计，运用突破性的毫
米波技术为管材提供外径、壁厚和偏心度的测量与控制。即
使是复杂的多层管材，也可精确测得所有数据。CENTER-
WAVE不受耦合材料影响，可精准地对管材壁进行多点高精
度测量。因而，该系统具有很好的操作重复性，为大直径的
塑料管材的品质保障提供了一个前瞻性的重要技术保障。
SIKORA展出的另一款新产品为PURITY CONCEPT 系
统。该系统采用了创新技术，模块化的设计使得它可以适用于
对颗粒、片状产品及带状产品进行在线或离线检测及分析。
展出产品中的另一亮点是塑料颗粒洁净度检测及分离系
统PURITY SCANNER。该系统的使用可确保无杂质进入所
生产的产品中。X射线技术和双轴光学检测系统完美的结
合，使得PURITY SCANNER能够检测出颗粒内部或表面存
在的大于50µm的杂质，并能可靠剔除含有杂质的颗粒。
SIKORA为管材产品的品质保障提供了各种不同的测控
仪器。从功能强大的高端测控仪到满足用户使用要求的基础
型测控仪，SIKORA为用户提供了测偏仪X-RAY 6000, 外径
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2016中国国际橡塑展
Extrusion Asia Edition 1/2016
A
t the Chinaplas, two devices celebrate their premiere.
SIKORA presents the CENTERWAVE 6000, which is based
on groundbreaking millimeter wave technology for measuring
the diameter, ovality and wall thickness of large plastic tubes
from 120mm to 1,000mm during the extrusion. Also the layer
thicknesses of multi-layer tubes are measured with highest pre-
cision. The measurements are taken at several points of the
tube circumference without the need for any coupling media
and independent from the material and temperature of the
measuring object. Calibration procedures are not necessary.
X-RAY 6000保证管材挤出的品质
The X-RAY 6000 assures quality of hoses and tubes during
extrusion